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标题: Device软件可以进行参数扫描与优化么？ [打印本页]

作者: 徐欣 时间: 2013-10-15 11:27
标题: Device软件可以进行参数扫描与优化么？
Device软件可以进行参数扫描与优化么？

作者: Tiger007 时间: 2013-10-15 13:04
DEVICE带有Lumerical 的参数扫描、优化和成品率分析工具。使用参数扫描，用户很容易进行特殊分析来表征在各种工作条件和工艺变化时设计的性能；参数扫描可以嵌套，序列运行，结果可以从扫描组里直接查看。

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