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标题: 在半导体热特性测试仪T3Ster中，多颗LED的K系数多次测量的重复性为什么会低于单颗的重复性?与冷板的大小有关吗？按说是在不发热的情况下测试的。 [打印本页]

作者: 费庆龄 时间: 2013-12-10 09:42
标题: 在半导体热特性测试仪T3Ster中，多颗LED的K系数多次测量的重复性为什么会低于单颗的重复性?与冷板的大小有关吗？按说是在不发热的情况下测试的。

作者: 钱耕 时间: 2013-12-10 10:01
K系数测量和很多因素有关，冷板的耗散功率、环境温度、感应电流等。

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