如何编写一个很好测试程序代码以达到较高的功能测试覆盖度？

应在芯片电路最初的设计及仿真阶段，就要规划好测试的方法，由于现今已经有很power的芯片设计和测试pattern工具，所以很快就能算出Test pattern coverage(测试覆盖率-电路logic的0/1toggle rate)是否合要求!至于测试MCU，应该是执行一些内建测试指令使所有电路都曾经toggle过即可，这和指令组合变化无关。